 |
Приборы для исследования образцов земного и инопланетного происхождения |
 |
SX 100Электронный микроанализатор
(EPMA) для локальной (<1µm), точной оценки количества элементов и картирования минеральных фаз, между 100% и несколькими ppm. Применяется главным образом в минералогии, петрографии, геохронологии и космической химии.
Подробная информация о приборе SX 100
|
 |
IMS 7fУниверсальный микрозонд
SIMS с магнитным сектором для локальной (0.5µm-50µm) количественной оценки и картирования микроэлементов (до уровня ppb концентраций) и изотопов. Применяется главным образом в геохимии и космической химии по всему диапазону масс, для измерения стабильных изотопов (H, B, C, O, S,..), измерений REE и в геохронологии (напр.: U, Th, Pb). |
 |
NanoSIMS 50Микрозонд SIMS с мультиколлекторным детектором для анализа сверхточных характеристик (разрешение 50nm). Используется в космической химии для изотопного или элементного анализа и картирования частиц и включений внеземного происхождения субмикронного размера. Применяется в геохимии для анализа локализованных (50nm-5µm) микроэлементов и изотопов. |
 |
IMS 1280Микрозонд SIMS с магнитным сектором большого радиуса, применяется главным образом для исследования стабильных изотопов, микроэлементов (нарп.: легкие и редкоземельные элементы) и в геохронологии (напр.:U, Th, Pb). Прибор IMS 1270 предлагает высочайшую чувствительность при высоком разрешении по массе и имеет мультиколлекторный детектор. Обеспечивает точность и воспроизводимость на уровне десятых долей ppm , по малым площадям измерений (5-50µm), в геохимии и космической химии. |
|
|
